[发明专利]量子阱红外探测器材料结构的模拟设计方法无效
申请号: | 200910072263.2 | 申请日: | 2009-06-12 |
公开(公告)号: | CN101571886A | 公开(公告)日: | 2009-11-04 |
发明(设计)人: | 李美成;张森;熊敏;陈雪飞 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;H01L31/101 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人: | 徐爱萍 |
地址: | 150001黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 量子阱红外探测器材料结构的模拟设计方法,它涉及一种量子阱红外探测器材料结构的设计方法。针对采用常规量子阱红外探测器材料的分子束外延方法,材料生长速率慢、成本高、不宜对外延生长工艺做大量调整和实时优化问题。方法是:建立物理模型、求解特征能级和波函数、求解总电子密度、利用泊松方程求解新的静电势能、静电势能判断、输出结果、预制微扰自洽迭代。量子阱探测器的结构设计包含了势阱厚度、势垒厚度、势垒高度(铝的含量)、掺杂浓度及总周期数等参数,本发明能结合特定探测器性能要求,综合考虑各种因素确定所需生长的具体的量子阱红外探测器材料,并具有材料生长速率快、成本低、适宜对外延生长工艺做大量调整和实时优化的优点。 | ||
搜索关键词: | 量子 红外探测器 材料 结构 模拟 设计 方法 | ||
【主权项】:
1、一种量子阱红外探测器材料结构的模拟设计方法,其特征在于:所述方法是这样实现的:步骤一、建立物理模型:选择量子阱的结构参数,既势阱厚度Lw=2nm~6nm;势垒厚度LB=20nm~60nm;势垒中铝的组分xAl=0.1~0.6;Si掺杂浓度ND=1×1017cm-3~4×1018cm-3;总周期数N为5~100及工作温度T=0K~350k,建立沿着材料生长方向的导带能级Ec的函数:E c ( z ) = 0.75 × ( 3.51 - 0.914 T 2 825 + T ) ( n - 1 ) ( L B + L W ) ≤ z < L B + ( n - 1 ) ( L B + L W ) 0.75 × [ 3.51 x + 6.1 ( 1 - x Al ) - x Al ( 1 - x Al ) - 2.15 T 2 1561 + T ] L B + ( n - 1 ) ( L B + L W ) ≤ z ≤ n ( L B + L W ) - - - ( 1 ) ]]> 其中n=1,2,...,N;步骤二、求解特征能级Ei和波函数Ψi,其中i为子带能级的序数:将导带能级Ec带入到势函数V中,即:V=Ec-eΦ(2)其中:e为核电荷数;Φ为静电势能,初始值设为0;然后将V带入到薛定谔方程中,即:其中m*为有效质量、为普朗克常数、z为材料生长方向;步骤三、求解总电子密度nq(Φ):为了计算得到总电子密度nq(Φ),需要计算每个能级上的电子密度并求和,将步骤二中得到的特征能级Ei和波函数Ψi带入下式:其中:kB为波尔兹曼常数;T为工作温度;π为圆周率;Ef为费米能级,Ef通过电流连续方程得出;步骤四、求解新的静电势能Φ’:将经步骤三计算得到的总电子密度nq(Φ)带入到泊松方程中,即:d dz ϵ d dz Φ ′ = q [ n q ( Φ ) - N D ] - - - ( 5 ) ]]> 得到新的静电势能Φ’,其中ε为介电常数;步骤五、静电势能判断:如果||Φ′-Φ||=0成立,说明静电势能保持稳定,继续下一步骤六;如果||Φ′-Φ||=0不成立,则跳到步骤七;步骤六、输出结果:最后得到设计结构的总电子密度nq(Φ)、特征能级Ei和波函数Ψi;步骤七、预制微扰自洽迭代:具体过程如下:7.1预制微扰计算新的总电子密度nkq,k代表微扰:7.2求解泊松方程:d dz ϵ d dz Φ k = q ( n q k - N D ) - - - ( 7 ) ]]> 得到新的微扰静电势能Φk;7.3微扰静电势能判断:如果qΔΦ=q(Φk-Φ)=0成立,回调到步骤二,同时Φk替换成Φ;如果qΔΦ=q(Φk-Φ)=0不成立跳回到步骤7.1,同时Φ被替换成Φ’,Φ’被替换成Φk。
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