[发明专利]基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法有效
| 申请号： | 200910072496.2 | 申请日： | 2009-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN101813522A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 吴海滨;于晓洋;王洋 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46 |
| 代理公司： | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人： | 陈晓光 |
| 地址： | 150040 黑龙江省哈尔滨市香*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法，本发明涉及结构光颜色信息重建过程中的一种颜色校正方法。其步骤是：(a)利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据，依次将每个采样点作为中心采样点，根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面，在其上过中心采样点作切面。(b)以切面表征表面局部几何特性，针对切面作入射光强分析和反射光强分析，计算出中心采样点的颜色校正系数。(c)利用各中心采样点的颜色校正系数校正颜色数据。本方法在结构光系统获取三维数据和颜色数据的基础上，直接根据三维数据分析表面几何特性及其对颜色数据的影响，修正该影响，得到真实颜色信息。本方法在工业和民用领域有着广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 表面 几何 特性 结构 重建 颜色 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法，其特征是：该方法包括步骤：(1)利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据，依次将每个采样点作为中心采样点，根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面，在空间曲面上过中心采样点作切面；(2)以切面表征被测表面局部几何特性，针对切面作入射光强分析和反射光强分析，进而计算出中心采样点的颜色校正系数；(3)利用各中心采样点的颜色校正系数校正其颜色数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨理工大学，未经哈尔滨理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910072496.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种关玉竹挂面及其制备方法
- 下一篇：自动高压断路器
