[发明专利]非线性模拟电路诊断激励的退火遗传优化方法无效
| 申请号： | 200910073346.3 | 申请日： | 2009-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN102087337A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 林海军 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316;G06N3/12 |
| 代理公司： | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人： | 陈晓光 |
| 地址： | 150700 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 非线性模拟电路诊断激励的退火遗传优化方法。模拟电路普遍存在的非线性及软故障等难以诊断的特性，使得它的故障诊断理论和方法还很不完善，在一定程度上成为制约集成电路测试的瓶颈。本发明，先确定被测非线性模拟电路的各种状态；各状态的被测非线性模拟电路施加多频激励信号，同时对输入、输出信号进行测量，得到采样数据序列，经过数据处理得到被测电路各故障状态下对应的前n阶沃尔特拉Volterra频域核；把测试激励信号的参数选择作为优化问题，以某一激励信号下各种故障状态的响应的集总欧氏距离作为对该信号的评价函数，用退火遗传优化方法进行测试激励信号的优化，最终得到优化了的激励信号参数。本发明用于电子线路的故障诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 非线性 模拟 电路 诊断 激励 退火 遗传 优化 方法 | ||
【主权项】：
非线性模拟电路诊断激励的退火遗传优化方法，其特征是：(1)首先确定被测非线性模拟电路的正常工作状态和各种故障状态；(2)向处于所述的各状态的被测非线性模拟电路施加多频激励信号，同时对输入、输出信号进行测量，得到采样数据序列，经过数据处理得到被测电路的各故障状态下对应的前n阶沃尔特拉Volterra频域核；(3)所述的把测试激励信号的参数选择作为优化问题，以某一激励信号下各种故障状态的响应的集总欧氏距离作为对该信号的评价函数，将模拟退火算法和遗传算法两者有机地结合，用退火遗传优化方法进行测试激励信号的优化，最终由寻优结果得到优化了的激励信号参数。
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