[发明专利]微观薄膜材料力学双轴测试试验台无效

专利信息
申请号: 200910076650.3 申请日: 2009-01-12
公开(公告)号: CN101504342A 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 段政;王天罡;牛莉莎;施惠基 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 代理人: 张文宝
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于材料力学测试设备领域,特别涉及一种微观薄膜材料力学双轴测试试验台。试验台的结构为:矩形箱体的侧壁设置两根异面垂直的丝杠,每根丝杠的两侧各安置一根与之平行的导轨;丝杠的两端均穿过箱体的侧壁,一端用双螺母固定,另一端安装手轮;在每根丝杠上分别安装两个滑块;每个滑块均通过力传感器各连接一个夹具。使用本发明能够对薄膜材料施加不同的双轴应力,并可以置于温度箱中对薄膜材料在不同温度下的力学行为进行研究,结构简单,使用方便。
搜索关键词: 微观 薄膜 材料力学 测试 试验台
【主权项】:
1. 微观薄膜材料力学双轴测试试验台,其特征在于,两根不在同一平面上垂直的上丝杠(31)和下丝杠(32)分别固定在箱体(9)的上下侧壁和左右侧壁上,上丝杠(31)的两侧各安置一根与之平行的上导轨(41),下丝杠(32)的两侧各安置一根与之平行的下导轨(42);上丝杠(31)和下丝杠(32)的两端分别穿过箱体(9)的上下侧壁和左右侧壁,一端用双螺母(8)固定,另一端安装手轮(7)并用双螺母(8)固定;在上丝杠(31)上安装两个上滑块(11),下丝杠(32)上安装两个下滑块(12);每个上滑块(11)和下滑块(12)均通过力传感器(5)各连接一个夹具(6)。
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