[发明专利]一种图形化有机场效应晶体管有源层的制备方法无效

专利信息
申请号: 200910077519.9 申请日: 2009-01-21
公开(公告)号: CN101783393A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 商立伟;刘明;姬濯宇;刘舸;刘兴华;柳江 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种图形化有机场效应晶体管有源层的制备方法,该方法包括:步骤1、在亲水性的绝缘层或介质层表面形成高疏水性粘附层图形;步骤2、在形成高疏水性粘附层图形的绝缘层或介质层表面沉积有机半导体溶液,该有机半导体溶液自动迁移到没有高疏水性黏附层的区域;步骤3、烘烤除去溶剂,形成图形化的有机半导体薄膜。由于高表面能,液相材料不能附着在高疏水性粘附层表面,而是自然地向没有高疏水性粘附层的地方迁移,从而能够复制高疏水性粘附层的图形。该方法工艺步骤简单,能够实现自对准,是一种低成本的有机半导体图形化方法。
搜索关键词: 一种 图形 有机 场效应 晶体管 有源 制备 方法
【主权项】:
一种图形化有机场效应晶体管有源层的制备方法,其特征在于,该方法包括:步骤1、在亲水性的绝缘层或介质层表面形成高疏水性粘附层图形;步骤2、在形成高疏水性粘附层图形的绝缘层或介质层表面沉积有机半导体溶液,该有机半导体溶液自动迁移到没有高疏水性黏附层的区域;步骤3、烘烤除去溶剂,形成图形化的有机半导体薄膜。
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