[发明专利]一种单粒子瞬态脉冲收集及检测电路结构

摘要

一种单粒子瞬态脉冲收集及检测电路结构，包括收集电路和检测电路，电平信号D经收集电路输出与电平信号D同相或反相的N个电平信号Y，粒子入射收集电路导致电平信号Y产生瞬态脉冲，检测电路在时钟信号CLK的作用下对瞬态脉冲进行捕获，其中收集电路包括N条由单元电路级联形成的链路。本发明收集电路的组成链路表征了数字电路内大部分常见电路节点的状态，通过获取电路结构的单粒子瞬态脉宽分布，可反映数字电路内大部分常见电路节点在单粒子入射后所产生的瞬态脉冲状况，本发明可用于有效评估数字电路及数字电路所基于工艺的单粒子瞬态敏感性，为数字电路抗单粒子辐射加固提供依据。

主权项

1、一种单粒子瞬态脉冲收集及检测电路结构，其特征在于：包括收集电路和检测电路，电平信号D经收集电路输出与电平信号D同相或反相的N个电平信号Y，粒子入射收集电路导致电平信号Y产生瞬态脉冲，检测电路在时钟信号CLK的作用下对瞬态脉冲进行捕获，所述的收集电路包括N条由单元电路级联形成的链路，N条链路的输入均为电平信号D，不同链路中的单元电路具备不同的驱动能力和不同扇入扇出比，同一链路中的单元电路具备相同的驱动能力和相同的扇入扇出比，N为整数。