[发明专利]一种与总剂量辐射相关的器件建模方法有效
| 申请号： | 200910078910.0 | 申请日： | 2009-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN101551831A | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | 王亮;岳素格;孙永姝 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 安 丽 |
| 地址： | 100076北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种与总剂量辐射相关的器件建模方法，首先设计原始器件并对原始电子器件进行测试和模型提取获得原始器件的模型，然后对得到的原始器件分别进行不同目标累积剂量辐照并进行测试和模型提取，获得全部目标累积剂量辐照后的器件模型，最后由获得的原始器件模型和经过目标累积剂量辐照后的器件模型共同构成与总剂量辐射相关的器件模型。本发明通过对原始器件和经历不同累积剂量辐照后器件进行测试和参数提取，给出了对加固及非加固器件进行精确建模的方法，同时还将辐射剂量作为一个变量加入到器件模型中的实现方式，使得通过仿真能够准确预估电路在经历不同剂量的辐射后的性能，从而提高电路的设计效率和成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 剂量 辐射 相关 器件 建模 方法 | ||
【主权项】：
1、一种与总剂量辐射相关的器件建模方法，其特征在于包括如下步骤：(1)设计电子器件作为原始电子器件；(2)根据步骤(1)设计的原始电子器件进行测试获得原始电子器件的测试数据，根据测试数据对原始电子器件进行模型提取，得到原始电子器件的器件模型；(3)对步骤(1)设计的原始电子器件分别采用不同目标累积剂量进行辐照；(4)对经过不同目标累积剂量辐照的原始电子器件分别进行测试得到新的测试数据，根据新的测试数据对经过辐照后的原始电子器件分别进行模型提取，获得全部目标累积剂量辐照后的电子器件模型；(5)由步骤(2)获得的原始电子器件的器件模型和步骤(4)得到的经过全部目标累积剂量辐照后的电子器件模型共同构成与总剂量辐射相关的器件模型，从而完成与总剂量辐射相关的器件建模过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所，未经北京时代民芯科技有限公司;中国航天时代电子公司第七七二研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910078910.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
