[发明专利]超低温环境应力、位移和气密性能的测试系统和测试方法有效
| 申请号： | 200910078918.7 | 申请日： | 2009-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN101487759A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | 谢小兵;王立峰;陈鑫;陈风波;田新 | 申请（专利权）人： | 航天材料及工艺研究所 |
| 主分类号： | G01M3/26 | 分类号： | G01M3/26;G01B21/32;G01L1/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 安 丽 |
| 地址： | 100076*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 超低温环境应力、位移和气密性能的测试系统和测试方法，测试系统包括气源、工作压力控制系统、密封应力加载系统、温度环境保证系统和密封检漏系统。本发明可以实现常、低温气密性检测，可以实现压缩应力检测，可以实现压缩位移的检测以及实现三者之间关系的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 超低温 环境 应力 位移 气密 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、超低温环境应力、位移和气密性能的测试系统，其特征在于包括：气源(1)、工作压力控制系统(2)、密封载荷加载系统(3)、温度环境保证系统(4)、密封检漏系统(6)，气源(1)与工作压力控制系统(2)通过气管连接；工作压力控制系统(2)通过气管与密封试验工装(5)的介质输入口连接，密封检漏系统(6)通过气管与密封试验工装(5)的检漏口连接，密封试验工装(5)放置在温度环境保证系统(4)内，温度环境保证系统(4)放置在密封载荷加载系统(3)的工作台上。
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