[发明专利]一种植被荧光探测方法及装置无效
| 申请号： | 200910080190.1 | 申请日： | 2009-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN101514963A | 公开（公告）日： | 2009-08-26 |
| 发明（设计）人： | 赵春江;郑文刚;孙刚;黄文江;刘良云;王纪华;申长军;闫华;吴文彪;周平;邢振;孟祥勇 | 申请（专利权）人： | 北京市农林科学院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 胡小永 |
| 地址： | 10009*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自然光照条件下的植被荧光探测方法及装置，所述探测方法包括：在自然光照条件下测量荧光波段入射能量、参考波段入射能量、植被在待测荧光波段的反射能量以及植被在参考波段的反射能量；利用测量所得到的能量值获取植被冠层的荧光绝对强度。该方法能够更加直观地反映自然条件下的光合作用的荧光信息，并且能够探测植被冠层荧光。由于其简便快捷、真实可靠的特点，更容易推广到航空或卫星平台，实现荧光探测从接触式的点测量方式到航空或卫星遥感大面积监测的技术飞越。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 植被 荧光 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种植被荧光探测方法，其特征在于，所述探测方法包括：在自然光照条件下测量：荧光波段入射能量、参考波段入射能量、植被在待测荧光波段的反射能量以及植被在参考波段的反射能量；利用测量所得到的能量值获取植被冠层的荧光绝对强度。
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