[发明专利]一种利用单极子天线测量物质介电常数的方法无效
| 申请号： | 200910081449.4 | 申请日： | 2009-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN101526569A | 公开（公告）日： | 2009-09-09 |
| 发明（设计）人： | 王慧慧;李弘;李斌;陈志鹏;王雨后;李翔;尤玮 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 成金玉;卢 纪 |
| 地址： | 230026*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种利用微波单极子天线测量物质介电常数的方法。利用单极子天线的发射特性，测量微波在待测物质中发射功率极大时的频率，从而得到该待测物质的介电常数。当单极子天线的天线部分长度与发射电磁波在待测物质中的波长成一定关系时，天线的发射功率达到最大。单极子天线方法即是利用这样的关系测定其介电常数。本发明能够更加简单、更加准确地测得物质的介电常数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 单极 天线 测量 物质 介电常数 方法 | ||
【主权项】：
1、一种利用单极子天线测量物质介电常数的方法。其特征在于：利用单极子天线发射特性，测量微波在物质的功率发射极大时的频率，从而得到物质的介电常数。具体为：将单极子天线的天线部分浸入待测物质中，测量待测物质在介质中的发射功率最大时的微波频率fMn，再测量出天线长度L，即可由公式ϵ = ( nc 4 L f Mn ) 2
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学，未经中国科学技术大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910081449.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种PN型核电池及其制备方法
- 下一篇：一种用于水果内部品质检测的输送托盘
