[发明专利]一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法有效
| 申请号： | 200910082721.0 | 申请日： | 2009-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN101876663A | 公开（公告）日： | 2010-11-03 |
| 发明（设计）人： | 孟凡勇;王维;李静海 | 申请（专利权）人： | 中国科学院过程工程研究所 |
| 主分类号： | G01P5/22 | 分类号： | G01P5/22;G01P15/16 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法，基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I；3)根据步骤1)和2)的数据计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，并计算出所述两相流颗粒团聚物速度及加速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 两相 颗粒 团聚 速度 加速度 方法 | ||
【主权项】：
一种测量两相流颗粒团聚物速度的方法，其特征在于，该方法基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I，得到投影序列I{n，i}，所述n代表探测器单元序号，i代表测量时间点序号；3)根据步骤1)得到的反应器本底投影信号Ir和步骤2)得到的投影序列I{n，i}计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εP，得到颗粒体积分率序列εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，根据所判断出的团聚物出现的位置及时刻计算出所述两相流颗粒团聚物速度。
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