[发明专利]一种光平均波长的测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910085890.X 申请日: 2009-06-03
公开(公告)号: CN101592526A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 徐宏杰;刘海锋;张春熹;宋凝芳;张忠钢;郭耀仪 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G02B6/24
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 代理人: 郑立明
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种光平均波长的测量方法及装置,以解决在现有测量平均波长的技术中,存在不能测量宽谱光的波长、测量精度较低、测量误差较大以及稳定工作点较难调的问题。本发明包括将输入的光信号通过相位调制得到两路光,并使经过光纤环传输的两路光产生干涉;接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号,通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。本发明通过将接收的干涉光信号转化为电信号,并通过对电信号的解调得到输入的光信号的平均波长,具有测量精度较高、测量误差较小以及容易测量的特点,可以用于测量光纤传感和光纤通讯领域宽谱光信号的平均波长,也可以用于测量窄谱光信号的平均波长,特别适用于高精度宽谱光平均波长的测量。
搜索关键词: 一种 平均 波长 测量方法 装置
【主权项】:
1、一种光平均波长的测量方法,其特征在于,包括:将输入的光信号通过相位调制得到两路光,并使经过光纤环传输的两路光产生干涉;接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号,通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。
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