[发明专利]一种三反射镜紧缩场天线测量系统及方法有效
| 申请号： | 200910086569.3 | 申请日： | 2009-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN101576591A | 公开（公告）日： | 2009-11-11 |
| 发明（设计）人： | 麦源;俞俊生;陈晓东;刘绍华;刘小明;王宇锋;徐亮;苏汉生;魏钦刚;汪玮 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 谢安昆;宋志强 |
| 地址： | 100876*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种三反射镜紧缩场天线测量方法，包括根据馈源场的分布和系统出射场的分布确定系统映射函数；采用动态波带跟踪理论对馈源发出的电磁波进行跟踪分析，由所述系统映射函数、馈源场波前参数和主反射镜镜面参数确定出第一赋型副反射镜全部镜面参数和第二赋型副反射镜全部镜面参数。本发明实施例还公开了一种三反射镜紧缩场天线测量系统。应用本发明实施例以后，可以适用于高于300GHz以上的馈源，并使系统出射场具有较大的静区利用系数，静区利用系数可以达到70％以上且交叉极化隔离度高、结构紧凑，测量频带宽。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 紧缩 天线 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种三反射镜紧缩场天线测量系统，包括馈源和主反射镜，其特征在于，还包括第一赋型副反射镜和第二赋型副反射镜，馈源发出的电磁波经过第一赋型副反射镜反射到第二赋型副反射镜上，第二赋型副反射镜将电磁波反射到主反射镜上，经主反射镜反射的电磁波以平面电磁波出射，生成系统出射场；根据馈源场的分布和所述系统出射场的分布确定系统映射函数；采用动态波带跟踪理论对馈源发出的电磁波进行跟踪分析，由所述系统映射函数、馈源场波前参数和主反射镜镜面参数确定出所述第一赋型副反射镜全部镜面参数和所述第二赋型副反射镜全部镜面参数。
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