[发明专利]接触式光纤测头测量方法及其装置

摘要

本发明涉及一种接触式光纤测头测量方法与装置，属于精密测试技术与仪器和光学精密测量领域。其基本思想：单色光光源的光通过单根光纤传至远离端光纤球，然后通过光纤球外层的反射膜反射回来，再进入外围的接收光纤束，然后经过光学系统至后端的图像探测器，再通过数字图像处理来识别接收来的光斑，如果前端光纤球触碰到被测物，则会导致发射光纤发生弯曲变形，从而导致反射回来的光的光强发生变化，反映到光斑图像的变化，从光斑变化信息提取被测物空间几何量信息。该方法克服了接触式测量的各向异性和测杆变形带来的测量误差，以及非接触测量中对被测物表面要求高的缺陷。

主权项

1.一种接触式光纤测头装置，其特征在于，该装置结构如下：单色光光源(1)；在单色光光源一侧，有一单根发射光纤(5)，该单根发射光纤的远离光源端端头是一个熔合的透明光纤球(7)，在光纤球(7)远离光源端的超半球表面镀上一层内反射膜(8)，然后在发射光纤(5)外套上能使发射光纤(5)在管内自由活动的光滑套管(4)，光滑套管外围是均匀分布且至少一层的多根接收光纤(3)，接收光纤外围是接收光纤束外包层(2)；在光滑套管接近光纤球端处内嵌一能自由伸缩的弹性复位装置(6)，在弹性复位装置外加起到封闭弹性复位装置(6)和固定发射光纤(5)作用的一个螺纹套管件(12)；在单色光光源(1)的另一侧，依次有透镜组(9)，光阑(10)，图像探测器(11)，计算机。