[发明专利]强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统无效

专利信息
申请号: 200910088590.7 申请日: 2009-07-08
公开(公告)号: CN101943664A 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 吴昊;郑厚植;谭平恒;章昊;朱汇;申超 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/66;G01N21/01
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一套强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统,包括:一液氮杜瓦;一手动五维调节平台,放置液氮杜瓦,用于调节液氮杜瓦的空间位置;一钕铁硼永磁体,同轴地套在液氮杜瓦的铝套筒外侧,用于提供测量的强磁场环境;一电动一维平移台,位于钕铁硼永磁体下方;一手动一维升降台,位于电动一维平移台下方,用于调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置;一超长工作距离物镜,位于液氮杜瓦的光学窗口的正前方,用于聚焦激发光到样品、以及收集并准直样品发出的荧光;一宽波段偏振非敏感分束棱镜,位于钕铁硼永磁体的通孔的一侧;一荧光光路,从样品出射,并经过超长工作距离物镜准直到垂直于光学窗口的方向;一激发光光路,与荧光光路正交于宽波段偏振非敏感分束棱镜。
搜索关键词: 磁场 环境 液氮 温度 自旋 相关 输运 测量 系统
【主权项】:
一套强磁场环境和液氮温度下的自旋相关输运测量系统,该系统包括:一液氮杜瓦,该液氮杜瓦底部一侧有一紫铜冷指,用于放置样品,使样品达到液氮温度,该冷指外部同轴地套有一铝套筒,用于保护冷指所处的真空环境,该套筒顶端开有一石英光学窗口,用于通过激发光和荧光;一手动五维调节平台,放置液氮杜瓦,用于调节液氮杜瓦的空间位置;一钕铁硼永磁体,开有一通孔,该钕铁硼永磁体的通孔同轴地套在液氮杜瓦的铝套筒外侧,用于提供测量的强磁场环境;一电动一维平移台,位于钕铁硼永磁体下方,用于调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置;一手动一维升降台,位于电动一维平移台下方,用于支撑钕铁硼永磁体和电动一维平移台,以及调节钕铁硼永磁体和液氮杜瓦的相对位置;一超长工作距离物镜,位于液氮杜瓦的光学窗口的正前方,用于聚焦激发光到样品、以及收集并准直样品发出的荧光;一宽波段偏振非敏感分束棱镜,位于钕铁硼永磁体的通孔的一侧;一荧光光路,从样品出射,并经过超长工作距离物镜准直到垂直于光学窗口的方向;一激发光光路,与荧光光路正交于宽波段偏振非敏感分束棱镜。
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