[发明专利]一种碳纳米管导线的工艺误差估计方法有效

专利信息
申请号: 200910088992.7 申请日: 2009-07-17
公开(公告)号: CN101609726A 公开(公告)日: 2009-12-23
发明(设计)人: 罗嵘;孙芃;张希;汪玉;杨华中 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01B1/04 分类号: H01B1/04;H01B13/00;C01B31/00;G06F17/50
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 代理人: 朱 琨
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种碳纳米管导线的工艺误差快速估计方法属于碳纳米管导线应用领域,其特征在于,是在保证误差分析精度的前提下,利用泰勒级数对电路参数进行多次近似展开,并通过代入化简,将碳纳米管导线受工艺误差影响的各项性能,利用概率密度函数的形式进行表示。相对于传统的Spice工具仿真算法,本发明的创新点在于,可大大缩减运算时间,可同时考虑多个工艺误差变量发生变化时对电路性能所引起的综合影响,可给出碳纳米管导线性能受到工艺误差影响所可能产生的各种情况,并给出相应概率,为设计者提供了有力的分析工具与参考指标。
搜索关键词: 一种 纳米 导线 工艺 误差 估计 方法
【主权项】:
1.一种碳纳米管导线的工艺误差估计方法,其特征在于,所述方法是在计算机中依次按下述步骤实现的:步骤(1),计算机初始化定义下述工艺参数:Pm,一个碳纳米管集束中金属性碳纳米管占该碳纳米管集束内所有碳纳米管数的比例,下标m为该碳纳米管集束的序号,下同,St,一个碳纳米管集束中,相邻碳纳米管在相邻侧壁间的最短距离,下标t表示该最短距离的序号,dn,一个碳纳米管集束中,各个碳纳米管的直径,下标n表示各碳纳米管的序号,下同,Rn,一个碳纳米管集束中,各个碳纳米管的接触电阻,λn,一个碳纳米管集束中,各个碳纳米管导线的电子自由程,hm,一个碳纳米管集束靠近地面的侧壁与地之间的最短距离,Wm,一个碳纳米管集束的宽度,Hm,一个碳纳米管集束的高度,定义所述工艺参数的误差变量及其设定范围3σ:ΔPm,不同的碳纳米管集束中,所述Pm的差别,3σ的范围设为32%,ΔSt,不同的碳纳米管集束中,所述St的差别,3σ的范围设为23%,Δintra dn,同一的碳纳米管集束中,所述dn的差别,3σ的范围设为4.4%,Δinter dn,不同的碳纳米管集束中,所述dn的差别,3σ的范围设为50%,Δintra Rn,同一的碳纳米管集束中,所述Rn的差别,3σ的范围设为50%,Δinter Rn,不同的碳纳米管集束中,所述Rn的差别,3σ的范围设为50%,Δλn,不同的碳纳米管集束中,所述λn的差别,3σ的范围设为50%,Δhm,不同的碳纳米管集束中,所述hm的差别,3σ的范围设为32%,ΔWm,不同的碳纳米管集束中,所述Wm的差别,3σ的范围设为32%,ΔHn,不同的碳纳米管集束中,所述Hm的差别,3σ的范围设为32%,所述3σ为工艺误差概率分布的正态曲线的均值正负3σ范围中覆盖的面积,步骤(2),建立碳纳米管的导线模型,据此确定碳纳米管导线的电阻、电容以及电杆的电路表达式步骤(2.1),建立碳纳米管集束的电阻模型当偏置电压Vb≤0.1V时,碳纳米管导线的电阻Rlow为:Rlow=Ri+Rn if lb≤λapRlow=Ro+Rn if lb>λap其中,Lb表示碳纳米管导线长度,为已知值,λap表示碳纳米管导线的电子平均自由程,为已知值,Ri表示碳纳米管的本征电阻值,Ri=ρ4e26.5]]>Rn为接触电阻,Rn=DrcRn(nom)if 1.0≤dt≤2.0nmRn=Rn(nom)if dt>2.0nm其中,Rn(nom)≈20kΩ,Drn表示随着所述dn减小而使所述Rn增大的比例,Drn≈1.08,Ro为欧姆电阻,Ro=h4e2lbλap]]>其中,ρ为普朗克常数,e为电子的电量,当偏置电压Vb>0.1V时,碳纳米管导线的电阻Rhigh为:Rhigh=Rlow+VbIo]]>其中,Io为单个碳纳米管导线中所能通过的最大电流,在20~25μA中取值,碳纳米管导线的总电阻Rb为:Rb=RlowNb·Pm]]>Vb≤0.1V时Rb=RhighNb·Pm]]>Vb>0.1V时其中,N为一个碳纳米管集束中碳纳米管导线的个数,NPm为一个碳纳米管集束中金属性碳纳米管导线的个数,碳纳米管导线上的最大压降Vmax为:Vmax=2(b2-4VddRlowIo-b)]]>b=Rlow Io+Nb Pm Rtr Io-Vdd其中,Vdd为片上的电源电压,Rtr为电源的等效电阻,步骤(2.2),确定碳纳米管集束的电容模型所述碳纳米管集束的电容为CbCb=11Ceb+1Ceb]]>其中,Cqb为碳纳米管集束的量子电容,Cqb=4Cq·Nb·Pm]]>Cq为碳纳米管导线的量子电容,Cq=2e2ρvF1.0×10-8F/μm=100aF/μm]]>Ceb为碳纳米管集束的电磁电容,Ceb=2Cen+Nw-22Cef+Nh-22Cen]]>其中,Nw,Nh分别代表该碳纳米管集束的横向、纵向上排布的碳纳米管导线的根数,Cen为强势电磁电容,Cef为弱势电磁电容:Cen=2πeln(Wbdm),]]>Cef=2πeln(Wb+Sdm)]]>其中,dm为一个碳纳米管集束中所有碳纳米管导线直径的平均值,步骤(2.3),确定碳纳米管集束的电感模型碳纳米管集束的电感Lb为:Lb=LK+LMLk为碳纳米管导线的动态电感,LK=h2e2vF1.6×10-8H/μm=16nF/μm]]>Lm为碳纳米管导线的量子电感,LM=μ2πcosh-1(2hd)μ2πln(hd)]]>其中,h为碳纳米管导线的中心轴与地面的垂直距离,步骤(3),提取电阻的特征参数把所述电路个模型的多项式表达形式转换为由误差变量组成的线性表达式:Rb=Rb(nom)+a1ΔPm+a2ΔSt+a3Δdn+a4ΔWm+a5ΔHmCb=Cb(nom)+b1ΔPm+b2ΔSt+b3Δdn+b4ΔWm+b5ΔHm+b6ΔymLb=Lb(nom)+c1ΔPm+c2ΔSt+c3Δdn+c4ΔWm+c5ΔHm+c6Δym其中,Rb(nom)、Cb(nom)、Lb(nom)分别代表在不变误差数值下Rb、Cb、Lb的理论值,各个误差变量的偏微分参数计算公式为:a1=RbPm,]]>a2=RbSt,]]>a3=Rbdt,]]>a4=Rbwb,]]>a5=Rbhb]]>b1=CbPm,]]>b2=CbSt,]]>b3=Cbdt,]]>b4=Cbwb,]]>b5=Cbhb,]]>b6=Cbht]]>c1=LbPm,]]>c2=LbSt,]]>c3=Lbdt,]]>c4=Lbwb,]]>c5=Lbhb,]]>c6=Lbht]]>其中,CbX=X(11C1+1C2)=C22(C1+C2)2·C1X+C12(C1+C2)2·C2X]]>X泛指各误差变量Pm,或St,或dn,或Rn,或λn,或hm,或Wm,或Hm,步骤(4),建立二阶矩模型对于由三条碳纳米管集束所组成的串并联电路而言,其而结局的误差变量线性表达式模型为:m2i=m2(nom)i+A1i·ΔPm+A2i·ΔSt+A3i·Δdn+A4i·Wm+A5i·ΔHm+A6i·Δhm]]>其中,m2(nom)i为所述m2i的常量值,通过把所述Rb(nom)、Cb(nom)、Lb(nom)以及m1(nom)i代入各项二阶矩模型的计算表达式中得到,将其计算公式记作函数F:m2(nom)=F(Ri(nom),Ci(nom),Li(nom),mi(nom))=F1(Ri(nom),Ci(nom),mi(nom))+F2(Ci(nom),Li(nom))误差变量系数Aj(j=1~6)即可根据第i段电路所对应的函数F表达式计算所得,m1i为所述由三条碳纳米管集束所组成的串并联电路的一阶矩模型,表示为:m1i=m1(nom)i+k1i·ΔPm+k2i·ΔSt+k3i·Δdn+k4i·ΔWm+k5i·ΔHm+k6i·Δhm]]>+ΣXiS,YjT,nkni(XiYj)]]>S={ΔPm,ΔSt,Δdn,ΔWm,ΔHm}T={ΔPm,ΔSt,Δdn,ΔWm,ΔHm,Δhm}m1(nom)i为所述m1i的常量值,通过把Rb(nom)、Cb(nom)、Lb(nom)代入各条支路的一阶矩模型表达式计算得到,将其计算公式记作函数f:m1(nom)=f(Ri(nom),Ci(nom))误差变量系数kji(j=1~6)即可根据第i段电路所对应的函数f表达式计算所得,步骤(5),基于D2M延时标准计算碳纳米管集束延时的分布函数PDFs碳纳米管集束延时的平均值E(D2M)为:E(D2M)=ln2·(m1(nom))2m2(nom)]]>碳纳米管集束延时的方差Stdev(D2M)为:Stdev(D2M)=ln2·(m1(nom))2m2(nom)S12·σ12+S22·σ22+S32·σ32+S42·σ42+S52·σ52+S62·σ62]]>其中,Sj(j=1~6)可以按照下式计算得到:Sj=2kjm1(nom)-Aj2m2(nom)]]>Pm,St,dn,Wm,Hm以及ym是互相独立的高斯变量,σ1,σ2,σ3,σ4,σ5,σ6分别为其方差,根据已得的平均值与方差,代入到高斯变量的概率分布公式,即可得到碳纳米管集束导线延时的概率分布函数PDFs,如下式所示:PDFs=12πStdev(D2M)e-(x-E(D2M))22Stdev(D2M)2.]]>
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