[发明专利]一种线性响应巨磁电阻效应多层膜有效

专利信息
申请号: 200910091793.1 申请日: 2009-08-25
公开(公告)号: CN101996734A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 刘涛;蔡建旺 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01F10/32 分类号: H01F10/32;H01F10/26;H01F10/30
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 王勇
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种线性响应巨磁效应多层膜,该多层膜主要用作为巨磁电阻传感器的核心部件。该多层膜的特点在于其自由层为复合自由层,它在具有垂直耦合的多层膜“反铁磁偏置层/铁磁层/反铁磁间隔层/铁磁自由层”或者其反结构中“反铁磁间隔层”的上下两界面的任一处或两处插入一定厚度范围的非磁的“调控间隔层”。“调控间隔层”的插入可以很好地起到优化“铁磁自由层”线性度、大大降低其矫顽力的作用;此外,本发明通过改变“调控间隔层”的厚度可以调控“铁磁自由层”和“铁磁层”的垂直耦合强度从而调控“铁磁自由层”在垂直“铁磁层”钉扎方向的各向异性场的大小,亦即巨磁电阻传感器的磁场线性响应范围。
搜索关键词: 一种 线性 响应 磁电 效应 多层
【主权项】:
一种线性响应巨磁电阻效应多层膜,所述巨磁电阻效应多层膜采用底钉扎结构,所述巨磁电阻效应多层膜包括复合自由层,所述复合自由层包括:依次生长的反铁磁偏置层、铁磁层和铁磁自由层;其特征在于,所述复合自由层还包括反铁磁间隔层和调控间隔层,所述反铁磁间隔层和调控间隔层均位于铁磁层和铁磁自由层之间;所述调控间隔层的制作材料为非磁材料,单层所述调控间隔层的厚度为0.1nm‑5nm。
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