[发明专利]液晶显示面板边缘缺陷的测试系统及其测试方法无效
| 申请号： | 200910091905.3 | 申请日： | 2009-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN101995671A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 张君;赵玉清;付伟;姚大青 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 丁琛 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种液晶显示面板边缘缺陷的测试系统及其测试方法。液晶显示面板边缘缺陷的测试系统包括：图像采集装置，用于对预先放置在待检测区域的切割后的液晶显示面板的边缘，进行图像采样；控制器，用于根据采样的图像信息，判断所述液晶显示面板的边缘是否存在边缘缺陷。本发明提供的液晶显示面板边缘缺陷的测试系统及其测试方法，对LCD面板边缘缺陷进行非接触式的光学影像测试，相对于接触式的机械对位的LCD面板边缘缺陷的测试系统和方法，具有测试系统迅速启动、检测精准度高、操作较为方便、寿命较长等优点，有利于提高LCD面板边缘缺陷的检测可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 边缘 缺陷 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶显示面板边缘缺陷的测试系统，其特征在于，包括：图像采集装置，用于对预先放置在待检测区域的液晶显示面板的边缘，进行图像采样；控制器，用于根据采样的图像信息，判断所述液晶显示面板的边缘是否存在边缘缺陷。
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