[发明专利]一种模拟电路工艺移植的方法有效
| 申请号： | 200910092882.8 | 申请日： | 2009-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN102024067A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模拟电路工艺移植的方法，包括：接收用户通过图形界面或命令行形式指定的数据；基于模拟电路功能结构特征库的电路功能分析与划分，以产生基于功能的新的层次化式的设计；基于功能结构特征产生约束条件；基于模拟电路功能性能指标项的测试电路模板库生成测试电路；基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库生成测量指令；利用性能指标值测试电路和测量指令进行性能指标值计算；将基于功能的层次化式的设计从原工艺映射到目标工艺；利用基于功能的层次化设计单元之间的独立性自下而上的并行优化目标电路；以及输出目标工艺下的基于功能的优化的层次化的电路设计网表。利用本发明，可将一种工艺下已经设计好的模拟电路自动优化为另一种工艺下电路性能指标值均符合要求的模拟电路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模拟 电路 工艺 移植 方法 | ||
【主权项】：
一种模拟电路工艺移植的方法，其特征在于，该方法包括：接收用户通过图形界面或命令行形式指定的输入数据，该数据至少包括原工艺下的电路网表、原工艺的模型卡片、目标工艺的模型卡片、原工艺到目标工艺的PCell映射及PCell参数映射、以及从原工艺到目标工艺的模型映射数据、基于模拟电路功能德结构特征库、基于模拟电路功能的性能指标项列表、基于模拟电路功能德性能指标项测试电路模板库、基于模拟电路功能德性能指标项测量指令模板库，以及电源和地网路数据；基于模拟电路功能结构特征库的电路功能分析与划分，以产生基于功能的新的层次化式的设计；基于功能结构特征产生约束条件；基于模拟电路功能性能指标项的测试电路模板库生成测试电路；基于模拟电路功能性能指标项的测量指令模板库生成测量指令；利用性能指标值测试电路和测量指令进行性能指标值计算；将基于功能德层次化式的设计从原工艺映射到目标工艺；利用基于功能的层次化设计单元之间的独立性自下而上的并行优化目标电路；以及输出目标工艺下的基于功能的优化的层次化的电路设计网表。
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