[发明专利]一种基于光谱吸收特征重排的高光谱数据目标识别方法无效
| 申请号： | 200910093546.5 | 申请日： | 2009-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101673339A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 赵慧洁;李娜;曹诚;牛志宇 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京慧泉知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于光谱吸收特征重排的高光谱数据目标识别方法，包含以下步骤：(1)读入高光谱数据；(2)最小噪声分量变换；(3)光谱连续统去除；(4)计算像元光谱的吸收位置、吸收深度以及吸收特征左右肩；(5)以待识别目标光谱为基谱按吸收深度的由强至弱进行排序，无明显吸收特征波段按波长从小到大排序，得到重排光谱；(6)以步骤(5)中待识别目标重排光谱的波长顺序进行高光谱数据的光谱特征重排，得到基于光谱重排的特征提取结果；(7)光谱特征匹配，获得目标识别结果。该方法解决了传统基于光谱特征匹配目标识别方法受噪声影响大、单个特征不稳定等因素对识别结果影响的问题，实现了可靠、精确的目标识别。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 吸收 特征 重排 数据 目标 识别 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基于光谱吸收特征重排的高光谱数据目标识别方法，其特征在于：它包含以下步骤：(1)读入高光谱数据；(2)最小噪声分量变换；(3)光谱连续统去除；(4)计算像元光谱的吸收位置、吸收深度以及吸收特征左右肩；(5)以待识别目标光谱为基谱按吸收特征进行光谱重排；(6)以步骤(5)中待识别目标重排光谱的波长顺序进行高光谱数据的光谱特征重排，得到基于光谱重排的特征提取结果；(7)光谱特征匹配，获得目标识别结果。
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