[发明专利]低频变频电源测量铁磁元件伏安特性的试验方法和补偿计算方法有效

专利信息
申请号: 200910094536.3 申请日: 2009-06-03
公开(公告)号: CN101650398A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 梁仕斌 申请(专利权)人: 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 昆明大百科专利事务所 代理人: 何 健
地址: 650217云南省昆明市昆*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 低频变频电源测量铁磁元件伏安特性的试验方法和补偿计算方法,本发明方法对铁磁元件的等效模型进行了深入分析,采用变频电源进行试验,测量低频率下的损耗功率P、电压U、励磁电流Iex、绕组直阻Rct,并推导出一组补偿计算公式,对铁损、直流电阻的影响进行补偿,使低频试验数据经补偿计算后与工频实测结果具有良好的一致性。本发明能够大幅降低试验电压及所需的试验设备容量,弥补工频试验的不足,并能有效消除对铁芯损耗、绕组直流电阻等因素的影响。
搜索关键词: 低频 变频 电源 测量 元件 伏安 特性 试验 方法 补偿 计算方法
【主权项】:
1、低频变频电源测量铁磁元件伏安特性的试验方法和补偿计算方法,其特征是:(1)建立了低频电源测量铁磁元件伏安特性的一种数学模型,这一模型将铁磁元件的电磁关系用一个电路表达,该电路由铁芯主感抗jωLm、铁芯涡流损耗等效电阻RE、铁芯磁滞损耗等效电阻RH的并联阻抗和绕组直流电阻Rct串联组成;IE是铁芯涡流损耗的等效电流,IH是铁芯磁滞损耗的等效电流,Im是通过主感抗的感性电流,U是试验时施加于绕组上的端电压,Iex是励磁电流;这一模型忽略了绕组漏抗,充分考虑了绕组直流电阻、铁芯磁滞损耗、涡流损耗的影响,在该电路上建立的数学模型其计算方程式为:U`=U`Rct+E`+I`exRct+I`ex(RE//RH//Lm);]]>(2)在低频率下测量有功功率P、电压U、励磁电流Iex、绕组直阻Rct;计算绕组直阻的压降URct=IexRcy,通过功率三角形,计算运用三角函数中的余弦定理计算绕组感应电势E;用感应电势按公式E’=Efn/fx进行频率换算,能够消除绕组直流电阻对低频试验结果的影响;(3)试验时采用变频电源,至少在两个不同频率下测量两个点的功率、电压和励磁电流,并按计算绕组感应电势,根据公式P铁损=(KE+KH/f)E2列立两个独立方程式,式中f为试验时的电源频率,解析该方程组得到两个比例常数KE、KH,这两个常数决定了不同频率和感应电势下铁磁元件的铁损;(4)运用公式E’=Efn/fx计算出额定频率下的绕组感应电势E’,E是试验频率下的绕组感应电势,fx是实测频率,单位Hz,fn是额定频率,单位Hz;(5)运用公式计算得到低频率下励磁电流的阻性分量和感性分量,分别是Ip、Im;(6)运用公式Ip,=(KEfn+KH)E/fx,Iex,=Im2+Ip2]]>计算得到额定频率下的励磁电流Iex’;(7)运用公式U,=E,2+(RctIex,)2]]>计算得到额定频率下的绕组端电压U’;可见低频下测得的有功功率P、电压U、励磁电流Iex,可根据上述方法换算得到额定频率下的绕组端电压、励磁电流,分别为:U,=E,2+(RctIex,)2;]]>Iex,=Im2+Ip,2;]]>采用上述试验方法和补偿计算公式,能够对低频试验中铁磁元件的铁损、直流电阻的影响进行补偿,使低频试验数据经补偿计算后与工频即50Hz或60Hz实测结果具有良好的一致性。
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