[发明专利]一种采用近空间升华技术在衬底沉积形成半导体薄膜的方法和装置有效
申请号: | 200910097899.2 | 申请日: | 2009-04-23 |
公开(公告)号: | CN101525743A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 夏申江 | 申请(专利权)人: | 浙江嘉远格隆能源股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/448 | 分类号: | C23C16/448;C23C16/22;C03C17/22 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 | 代理人: | 赵红英 |
地址: | 310012浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种采用近空间升华技术在衬底沉积形成半导体薄膜的方法,包括1)将半导体材料填加到坩埚内:用运载气体携带半导体材料通过通道到达置于薄膜真空沉积腔内的坩埚;2)加热坩埚使半导体材料受热升华成气相并沉积在衬底上。本发明的有益效果:用运载气体携带半导体材料通过通道到达置于真空沉积腔内的坩埚内,无需打开薄膜真空沉积腔而直接向薄膜真空沉积装置连续或间隙供应半导体材料,由运载气体携带的半导体材料通过进料分配器均匀地分布在坩埚底部,解决了现有技术中存在的随着半导体材料在玻璃衬底上沉积形成薄膜,坩埚内半导体材料容量随之减少,导致玻璃衬底和原材料之间距离增大的问题,在同一衬底上所得到的薄膜的均匀度能有效控制。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 空间 升华 技术 衬底 沉积 形成 半导体 薄膜 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种采用近空间升华技术在衬底沉积形成半导体薄膜的方法,包括:1)将半导体材料填加到坩埚内:用运载气体携带半导体材料通过通道到达置于薄膜真空沉积腔内的坩埚;2)加热坩埚使半导体材料受热升华成气相并沉积在衬底上。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的