[发明专利]一次性可编程单元和阵列及其编程和读取方法无效

专利信息
申请号: 200910098495.5 申请日: 2009-05-12
公开(公告)号: CN101887756A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 赵启永;陈焱;周炯 申请(专利权)人: 杭州士兰集成电路有限公司
主分类号: G11C17/08 分类号: G11C17/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310012 浙江省杭州市杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一次性可编程单元包括可击穿栅氧介质的存储元件、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管,存储元件第一端连接第一电压端,第二端连接第一NMOS漏极,第一NMOS栅极连接第二电压端,第一NMOS源极连接第二NMOS漏极,第二NMOS栅极连接行选择端,第二NMOS源极连接列选择端;一次性可编程阵列包括M行行线,N列列线,以及M×N个如上一次性可编程单元,一次性可编程阵列编程方法为第一电压端施加恒定的第一电压;第二电压端施加恒定的第二电压;各行线施加行选择电压;各列线施加列选择电压。本发明提供的一次性可编程单元和阵列及其编程方法,无需高压译码,工艺要求低、成本较低,扩大了应用范围。
搜索关键词: 一次性 可编程 单元 阵列 及其 编程 读取 方法
【主权项】:
一次性可编程单元其特征在于包括:可栅氧化层击穿的存储元件、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管,所述存储元件为两端元件,两端之间为可击穿的栅氧介质,存储元件的第一端连接第一电压端P,所述存储元件的第二端连接所述第一NMOS晶体管的漏极,第一NMOS晶体管的栅极连接第二电压端D,第一NMOS晶体管的源极连接所述第二NMOS晶体管漏极,第二NMOS晶体管的栅极连接行选择端R,第二NMOS晶体管的源极连接列选择端C。
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