[发明专利]一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法有效
| 申请号： | 200910110751.8 | 申请日： | 2009-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN102043124A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 谢武洪 | 申请（专利权）人： | 炬力集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 贾振勇 |
| 地址： | 519085 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于集成电路领域，提供了一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法，该集成电路包括第一接口组、第二接口组和扫描数据选择器；第一接口组和第二接口组各自分别包括至少两个可封装为集成电路外部引脚的输入输出接口；第一接口组的各输入输出接口与扫描数据选择器的输入端一一对应连接，扫描数据选择器的输出端与扫描链的扫描数据输入端连接；扫描链的扫描数据输出端与第二接口组的各输入输出接口连接。本发明实施例可极大地增加扫描链的条数，减少单条扫描链的寄存器数目，从而极大地降低芯片的测试成本，提高芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 扫描 集成电路 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种具有扫描链的集成电路，其特征在于，所述集成电路还包括第一接口组、第二接口组以及扫描数据选择器；所述第一接口组和第二接口组各自分别包括至少两个可封装为集成电路外部引脚的输入输出接口；所述第一接口组的各输入输出接口与所述扫描数据选择器的输入端一一对应连接，所述扫描数据选择器的输出端与所述扫描链的扫描数据输入端连接；所述扫描链的扫描数据输出端与所述第二接口组的各输入输出接口连接；所述扫描数据选择器用于根据输入到其控制端的封装类型指示信号，选择所述第一接口组中与该指示信号对应的输入输出接口上的数据输出至所述扫描数据输入端。
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