[发明专利]一种法拉第效应测试系统无效

专利信息
申请号: 200910112647.2 申请日: 2009-10-15
公开(公告)号: CN102042960A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 吕佩文;颜峰坡;黄丰;林璋 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 350002 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种法拉第效应测试系统,涉及系统的组成、特点以及应用方法。包括激光光源1,斩波器2,起偏器3,电磁场4,直流电源5,样品架6,检偏器7,光电倍增管8,信号接收分析仪器9,使用斩波器将光源变成脉冲光,增强信噪比,样品台空间高达100mm*100mm*100mm。光源部分可扩展,从330-2300纳米,法拉第转子部分提供了高达1.7T的磁场,法拉第偏转角的精度可达到0.00125°。本发明结构简单,具有使用方便、响应灵敏度高等优点。可以实现对包括块体、薄膜、单晶、多晶等样品的法拉第效应的测试。
搜索关键词: 一种 法拉第 效应 测试 系统
【主权项】:
一种法拉第效应测试系统,包括激光光源,斩波器,起偏器,电磁场,直流电源,样品架,检偏器,光电倍增管,信号接收分析仪器,其特征在于:使用斩波器将光源变成脉冲光。
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