[发明专利]一种法拉第效应测试系统无效
申请号: | 200910112647.2 | 申请日: | 2009-10-15 |
公开(公告)号: | CN102042960A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 吕佩文;颜峰坡;黄丰;林璋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 350002 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种法拉第效应测试系统,涉及系统的组成、特点以及应用方法。包括激光光源1,斩波器2,起偏器3,电磁场4,直流电源5,样品架6,检偏器7,光电倍增管8,信号接收分析仪器9,使用斩波器将光源变成脉冲光,增强信噪比,样品台空间高达100mm*100mm*100mm。光源部分可扩展,从330-2300纳米,法拉第转子部分提供了高达1.7T的磁场,法拉第偏转角的精度可达到0.00125°。本发明结构简单,具有使用方便、响应灵敏度高等优点。可以实现对包括块体、薄膜、单晶、多晶等样品的法拉第效应的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 法拉第 效应 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种法拉第效应测试系统,包括激光光源,斩波器,起偏器,电磁场,直流电源,样品架,检偏器,光电倍增管,信号接收分析仪器,其特征在于:使用斩波器将光源变成脉冲光。
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