[发明专利]双基面高度卡尺有效
| 申请号： | 200910114162.7 | 申请日： | 2009-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN101586937A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 吴峰山;吴弋 | 申请（专利权）人： | 吴峰山;吴弋 |
| 主分类号： | G01B5/08 | 分类号： | G01B5/08;G01B5/18 |
| 代理公司： | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 廖世传 |
| 地址： | 541004广西壮族自治区*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双基面高度卡尺，包括底座、垂直于底座的尺身、尺身上滑动的尺框和尺框上的测量爪(杆)，所述底座具有双基面结构，即底座的下平面为下测量基面和底座的上表面为上测量基面，所述测量爪(杆)为两个，分别对应于上、下测量基面；上测量基面为曲面或平面；所述测量爪(杆)与尺框固定连接或与尺框采用可拆卸方式连接。本发明既可以利用底座的下测量基面与平板结合对工件进行测量或划线，又能利用底座的上测量基面和相应测量爪(杆)单独测量工件的直径、高度、深度等尺寸，也可对小型工件进行划线等操作，比普通高度卡尺扩大了适用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 双基面 高度 卡尺 | ||
【主权项】：
1、双基面高度卡尺，包括底座(1)、垂直于底座(1)的尺身(2)、尺身(2)上滑动的尺框(3)和尺框(3)上的测量爪或测量杆(4)，其特征在于：所述底座(1)具有双基面结构，即底座(1)的下表面为一个与平板结合的下测量基面(5)，上表面为一个单独的上测量基面(6)；所述测量爪或测量杆(4)有两个测头，分别对应于上、下测量基面(6、5)。
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