[发明专利]使弹头表面痕迹的测量姿态保持统一标准的定位方法无效
申请号: | 200910116541.X | 申请日: | 2009-04-13 |
公开(公告)号: | CN101539389A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 马建春 | 申请(专利权)人: | 马建春 |
主分类号: | F42B35/02 | 分类号: | F42B35/02;G01B11/30 |
代理公司: | 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 王 琪 |
地址: | 233000安徽省蚌埠市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 使弹头表面痕迹的测量姿态保持统一标准的定位方法,它是利用任意一种常规的光栅投影非接触三维测量方式,首先对弹头表面痕迹进行预定位、预测量,将得到的弹头相应区域的表面痕迹的放大图像及相应测量参数输入计算机,将预测量结果与规定的数值范围对比,判定测量误差是否超出规定的数值范围,当超出时,要调整弹头表面痕迹的测量姿态,并对弹头相应区域的表面痕迹再进行一次预测量,且调整弹头表面痕迹的测量姿态及随后的预测量可多次进行,直到测量误差控制在规定的相应数值范围之内,确定统一的测量姿态。这样,在统一的测量姿态下再进行正式测量,可获得符合标准的弹头表面痕迹的三维测量数据。 | ||
搜索关键词: | 弹头 表面 痕迹 测量 姿态 保持 统一标准 定位 方法 | ||
【主权项】:
1、使弹头表面痕迹的测量姿态保持统一标准的定位方法,它包括以下工艺步骤:1)根据弹头上的主棱线或次棱线及两棱线缠角的数值,用计算机上的常规绘图软件绘出作为测量基础的定位线并将定位线表达在显示器的屏幕上,定位线与水平面之间的角度与弹头的缠角相同;2)利用任意一种常规的光栅投影非接触三维测量方式,将得到的弹头相应区域的表面痕迹的放大图像及相应测量参数输入计算机,并将它们用常规的相关软件表达在显示器的屏幕上,所述放大图像的长度方向表达在显示器屏幕的水平方向上,代表了弹头的弹轴方向,设定为X方向,所述放大图像的宽度方向表达在显示器屏幕的竖直方向上,代表了弹头在水平面内与弹轴方向相垂直的方向,设定为Y方向,弹头中垂直于X、Y方向所在水平面的方向,为弹头表面痕迹的圆弧高度方向,设定为Z方向;3)在显示器的屏幕上对弹头主棱线或次棱线区域的表面痕迹的放大图像进行观察,观察时,要移动弹头,让弹头放大图像的相应棱线与定位线重叠,并使弹头放大图像的相应棱线末端痕迹点或阳膛线末端痕迹点与显示器屏幕上的Y轴平齐,以确保弹头的表面痕迹在Y、X方向上得到预定位;4)利用任意一种常规的光栅投影非接触三维测量方式,对弹头相应区域的表面痕迹进行预测量,将得到的弹头相应区域的表面痕迹的放大图像及相应测量参数输入计算机,并将它们用常规的相关软件表达在显示器的屏幕上;5)根据弹头表面痕迹放大图像的长度方向两端在X方向的水平差差值,决定是否对弹头的长度方向两端在X方向的水平作相应调整,以使弹头表面痕迹放大图像的长度方向两端在X方向的水平差差值控制在20微米之内;6)再用常规的相关软件过放大图像的中心点沿Y方向作一切线,该切线为曲线,设定放大图像的中心点、切线与相应棱线的交点分别为A点、B点,得到弹头Z方向A、B两点之间的高差值h;7)当高差值h在10~90微米的范围内时,无需以弹头的弹轴为轴线旋转弹头,使弹头表面痕迹的测量姿态保持统一标准;当高差值h超出10~90微米的范围时,要以弹头的弹轴为轴线旋转弹头,对弹头相应区域的表面痕迹再进行一次预测量,且旋转弹头及随后的预测量可多次进行,且每次预测量时,要确保弹头表面痕迹放大图像的长度方向两端在X方向的水平差差值控制在20微米之内,直至高差值h控制在10~90微米的范围之内,且让弹头放大图像的相应棱线再次与定位线重叠,并使弹头放大图像的相应棱线末端痕迹点或阳膛线末端痕迹点再次与显示器屏幕上的Y轴平齐,使弹头表面痕迹的测量姿态保持统一标准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于马建春,未经马建春许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910116541.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。