[发明专利]采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法无效
申请号: | 200910117020.6 | 申请日: | 2009-06-05 |
公开(公告)号: | CN101566496A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 毕传兴;张永斌;徐亮;陈心昭 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01H5/00 | 分类号: | G01H5/00;G01H17/00;G01N29/00 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人: | 何梅生 |
地址: | 230009安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法,其特征是在被测声场中设置测量面S1和与其平行、且相隔距离为δh的辅助测量面S2;测量两个面上的法向质点振速;设置虚源面S1*和S2*,在虚源面上分布等效源;建立等效源与两测量面上法向质点振速之间的传递关系;根据该传递关系确定虚源面S1*和S2*上各等效源的源强;根据两虚源面上等效源的源强分离出两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速。本发明采用等效源法来作为声场分离算法,计算稳定性好、计算精度高、实施简单;采用两个测量面上的法向质点振速作为输入量来进行分离,分离的法向质点振速精度高。本发明方法可广泛用于内部声场或噪声环境下的近场声全息测量、材料反射系数的测量,散射声场的分离等。 | ||
搜索关键词: | 采用 双面 测量 等效 分离 声场 方法 | ||
【主权项】:
1、采用双面振速测量和等效源法分离声场的方法,其特征是按如下步骤进行:a、测量两个面上的法向质点振速在由声源1和声源2构成的被测声场中,位于声源1与声源2之间有测量面S1,在测量面S1与声源2之间设置一与测量面S1平行、且相隔距离为δh的辅助测量面S2;在两测量面上分别分布有测量网格点,相邻网格点之间的距离小于半个波长;测量两个测量面上各网格点处的法向质点振速幅值和相位信息获得两测量面上的法向质点振速;所述被测声场为稳态声场;b、在测量面S1与声源1之间设定虚源面S1*,在辅助测量面S2与声源2之间设定虚源面S2*,并在两虚源面上分别分布有等效源,等效源的个数不大于对应测量面网络点数;所述等效源为标准点源、面源或体源;c、建立两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系v S 1 = ( v S 1 1 ) * W 1 + ( v S 1 2 ) * W 2 ]]>v S 2 = ( v S 2 1 ) * W 1 + ( v S 2 2 ) * W 2 , ]]> 其中为测量面S1上测得的法向质点振速、测量面S2上测得的法向质点振速、W1为虚源面S1*上等效源权重矢量、W2为虚源面S2*上等效源权重矢量、为虚源面S1*上等效源与测量面S1上法向质点振速之间的传递矩阵、为虚源面S1*上等效源与测量面S2上法向质点振速之间的传递矩阵、为虚源面S2*上等效源与测量面S2上法向质点振速之间的传递矩阵、为虚源面S2*上等效源与测量面S1上法向质点振速之间的传递矩阵;d、求解两虚源面上等效源的源强根据步骤c所建立的两虚源面上等效源与所述两测量面上法向质点振速之间的传递关系,联合求解获得虚源面S1*和虚源面S2*上各等效源的源强为W 1 = [ ( v S 1 1 ) * - G 1 ( v S 2 1 ) * ] + ( v S 1 - G 1 v S 2 ) ]]>W 2 = [ ( v S 1 2 ) * - G 2 ( v S 2 2 ) * ] + ( v S 1 - G 2 v S 2 ) ]]> 其中G 1 = ( v S 1 2 ) * [ ( v S 2 2 ) * ] + , ]]>G 2 = ( v S 1 1 ) * [ ( v S 2 1 ) * ] + ; ]]> e、计算两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速根据步骤d确定的两虚源面上等效源的源强,可以计算出两测量面上由两侧声源分别辐射的声压、法向质点振速分别为p S 1 1 = ( p S 1 1 ) * W 1 ]]>p S 2 1 = ( p S 2 1 ) W 1 ]]>p S 1 2 = ( p S 1 2 ) * W 2 ]]>p S 2 2 = ( p S 2 2 ) * W 2 ]]>v S 1 1 = ( v S 1 1 ) * W 1 ]]>v S 2 1 = ( v S 2 1 ) * W 1 ]]>v S 2 2 = ( v S 2 2 ) * W 2 ]]>v S 1 2 = ( v S 1 2 ) * W 2 , ]]> 其中为声源1在测量面S1上所辐射的法向质点振速、为声源2在测量面S1上所辐射的法向质点振速、为声源1在辅助测量面S2上所辐射的法向质点振速、为声源2在辅助测量面S2上辐射的法向质点振速、为声源1在测量面S1上所辐射的声压、为声源2在测量面S1上所辐射的声压、为声源1在辅助测量面S2上所辐射的声压、为声源2在辅助测量面S2上辐射的声压、为虚源面S1*上等效源与测量面S1上声压之间的传递矩阵、为虚源面S1*上等效源与测量面S2上声压之间的传递矩阵、为虚源面S2*上等效源与测量面S2上声压之间的传递矩阵、为虚源面S2*上等效源与测量面S1上声压之间的传递矩阵;
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910117020.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:人体身高测量仪
- 下一篇:单晶硅掺杂剂的生产工艺