[发明专利]一种计算埋入式导体深度的探测仪有效
| 申请号： | 200910118422.8 | 申请日： | 2009-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN101526335A | 公开（公告）日： | 2009-09-09 |
| 发明（设计）人： | 约翰·马克果 | 申请（专利权）人： | 雷迪有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/26 | 分类号： | G01B7/26 |
| 代理公司： | 上海衡方知识产权代理有限公司 | 代理人： | 卞孜真 |
| 地址： | 英国布里*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种计算掩埋式导体25深度的探测仪1，由多个天线B，M，T组成，去探测由导体25辐射的电磁场，基于对天线B，M，T的探测，去计算上述导体25的深度的手段。当一个或者更多的预定数值达到满意时，导体深度的计算值将被显示。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算 埋入 导体 深度 探测仪 | ||
【主权项】：
1.一种计算埋入式导体深度的探测仪，探测仪包括：用来检测上述导体辐射的电磁场的多个天线；在所述天线探测范围的基础上计算上述导体深度的手段；以及显示计算出的上述导体深度的手段；其中探测仪被设置为，当满足一个或多个预设标准时显示计算出的深度。
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