[发明专利]双功能探测器装置有效

专利信息
申请号: 200910118727.9 申请日: 2009-01-09
公开(公告)号: CN101551462A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: D·阿尔巴利;A·J·库图尔;W·A·亨尼西;K·S·库姆普;F·高;J·Z·刘 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;A61B6/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王 岳;王小衡
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种双功能探测器装置,其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术,该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像,包括那些包含时间和空间变化电磁场的。
搜索关键词: 功能 探测器 装置
【主权项】:
1.一种探测器装置(33),其包括:至少一个像素(160a),其具有光电探测器部分(64a)和非光电探测器部分(62a);第一线(40a),其用于可操作地耦合到每个像素(60a)部分;第二线(40b),其设置成分离所述至少一个像素(60a)的一部分,其中第二线(40b)并不操作地耦合到所述至少一个像素(60a);以及其中第一线(40a)能选择性地实现选择性地激活光电探测器部分(64a)。
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