[发明专利]检测光学透镜支架的设备及相关方法有效

专利信息
申请号: 200910118732.X 申请日: 2009-01-04
公开(公告)号: CN101487697A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: J·M·默尼耶;J·J·魏代科契 申请(专利权)人: 布其蒙国际公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;B24B13/00
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 法国蓬*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 设备(10)包括可围绕第一轴线(B-B’)旋转的转台(50)、安装在转台(50)上的滑动装置(52)和安装为可在滑动装置(52)中沿着基本平行于第一轴线(B-B’)的第三轴线(A-A’)滑动的传感器(30)。该设备包括传感器移动装置(34),以在检测支架时使传感器的接触面(42)沿着支架(14)移动。该移动装置(34)包括驱动转台(50)围绕第一轴线(B-B’)旋转的装置(70)。该设备包括控制装置(82),该控制装置(82)用于控制使转台在垂直于第一轴线(B-B’)的平面上移动的装置(72),并适于在检测支架期间,当转台被驱动围绕第一轴线(B-B’)旋转时,使转台(50)在所述平面上移动。
搜索关键词: 检测 光学 透镜 支架 设备 相关 方法
【主权项】:
1. 一种用于检测光学透镜的支架(14)的检测设备(10),该检测设备包括:框架(26),该框架(26)包括用于固定所述支架(14)的固定装置(28);转台(50),该转台(50)安装为能够在所述框架(26)上围绕第一轴线(B-B’)旋转,所述第一轴线(B-B’)设置为基本垂直于所述支架(14)的平均准线表面;滑动装置(52),该滑动装置(52)安装为能够在所述转台(50)上沿着基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的第二轴线(C-C’)滑动;传感器(30),该传感器(30)安装为能够在所述滑动装置(52)中沿着基本平行于所述第一轴线(B-B’)的第三轴线(A-A’)滑动,所述传感器(30)装配有横向检测部件(40),该横向检测部件(40)具有用于与所述支架(14)接触的接触面(42);传感器移动装置(34),该传感器移动装置(34)用于使所述传感器(30)围绕所述支架(14)的缘(18)移动,以在检测所述支架时使所述接触面(42)围绕所述支架(14)移动,该传感器移动装置(34)包括用于驱动所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)旋转的旋转驱动装置(70);以及转台移动装置(72),该转台移动装置(72)用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的基本垂直平面上移动;其特征在于,所述检测设备(10)包括控制装置(82),该控制装置(82)用于在检测所述支架时控制用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上移动的转台移动装置(72),并适于在所述旋转驱动装置(70)驱动所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)旋转的同时,使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上在中心有效位置附近移动。
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