[发明专利]高精度宽量程微推力测量系统有效
| 申请号： | 200910125312.4 | 申请日： | 2009-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111373875B | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 王广宇;金星;洪延姬;王宇;叶继飞;李修乾;文明;崔村燕;李倩;窦志国 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于推力台的微推力测量技术，其目的是设计一种通用的宽量程推力测量研究平台。推力台采用基于挠性枢轴的扭秤方案，包括：台体结构、调平机构、配平机构、挠性枢轴、电容位移传感器、标定和施力线圈、阻尼器等。系统有开环和闭环两种工作模式。开环工作时，横梁在连续(或脉冲)推力作用下开始转动，随转角逐渐增大，弹性恢复力也在相应增大，在阻尼的衰减作用下，最终转角将趋于一个(准)稳态的新平衡位置。通过测量出横梁的角位移获得推力。闭环工作时，通过引入由施力器产生的平衡力来平衡推力。本发明具有测量精度高、量程宽和通用性强等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 量程 推力 测量 系统 | ||
【主权项】：
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