[发明专利]光盘缺陷侦测装置及其方法无效
| 申请号： | 200910127972.6 | 申请日： | 2009-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN101587730A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 朱清和 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/10 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) | 代理人： | 翟 羽 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光驱的光盘缺陷侦测装置及其方法。光驱记录第一数据组至光盘的至少一个数据单元，当第一数据组已被记录后，光盘缺陷侦测装置对得自光盘的数据单元的第二数据组进行验证。光盘缺陷侦测装置包含：错误侦测器，用以接收第一数据组及第二数据组，并将第一数据组与第二数据组作比较，以产生第二数据组的错误信息；以及缺陷验证单元，耦接至错误侦测器，用以根据错误信息决定数据单元是否有缺陷。依据本发明对得自光盘的数据单元的第二数据组进行验证时，能改善验证的精确性，亦能有效地减少内存的使用。 | ||
| 搜索关键词： | 光盘 缺陷 侦测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光驱的光盘缺陷侦测装置，其中所述光驱用于记录第一数据组至光盘的至少一个数据单元，当所述第一数据组已被记录后，所述缺陷侦测装置对来自所述光盘的所述数据单元的第二数据组进行验证，其特征在于，所述光盘缺陷侦测装置包含：错误侦测器，用以接收所述第一数据组及所述第二数据组，并将所述第一数据组与所述第二数据组作比较，以产生所述第二数据组的错误信息；以及缺陷验证单元，耦接至所述错误侦测器，用以根据所述错误信息决定所述数据单元是否具有缺陷。
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