[发明专利]具闪存测试功能的控制器及其储存系统与测试方法有效
| 申请号： | 200910129267.X | 申请日： | 2009-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN101853692A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 陈本慧;赵伟程;王敏丞 | 申请（专利权）人： | 群联电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 中国台湾*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具闪存测试功能的闪存控制器，其包括微处理器单元、闪存接口单元、主机接口单元与存储单元测试单元。闪存接口单元用以连接多个闪存芯片，其中每一闪存芯片包括多个闪存晶粒且每一闪存晶粒包括多个实体区块。主机接口单元用以连接一主机系统。存储单元测试单元用以判断这些闪存芯片的实体区块是否可被正常地写入、读取与抹除。基此，根据本发明的闪存控制器可在主机系统的指示下进行闪存芯片的测试并且确保此闪存芯片内的所有实体区块皆可完成测试。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 测试 功能 控制器 及其 储存 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种具闪存测试功能的闪存控制器，包括：一微处理器单元；一闪存接口单元，连接到该微处理器单元，用以连接多个闪存晶粒且每一闪存晶粒包括多个实体区块；一主机接口单元，连接到该微处理器单元，用以连接一主机系统；以及一存储单元测试单元，连接到该微处理器单元，该存储单元测试单元同时地使能每一所述闪存晶粒并以一广播方式在每一所述闪存晶粒中同时写入一测试数据，其中该存储单元测试单元从每一所述实体区块中读取该测试数据来判断每一所述实体区块是否为一损坏实体区块。
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