[发明专利]倒装芯片封装的制造方法、其结构及晶片涂布的结构有效

专利信息
申请号: 200910130573.5 申请日: 2009-04-03
公开(公告)号: CN101853791A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 叶庭彰;陈廷源;周世文 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L21/78;H01L23/31
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭示一种倒装芯片封装的制造方法、其结构及晶片涂布的结构。此倒装芯片封装的制造方法包括,先于一具有多个凸块的晶片表面覆盖一粘胶层,其中该多个凸块是浸埋于该粘胶层内。再借由加热烘烤或UV照射等其他方式使该多个凸块的一部份例如是凸块顶端露出于半固化的该粘胶层。单一化该晶片形成为多个芯片,并倒装焊一该芯片于一基板上。本发明借由预先形成底部充填层于具有多个凸块的晶片表面,而能有效提升底部填充材的涂布效率,并且能兼顾底部填充材的涂布品质。
搜索关键词: 倒装 芯片 封装 制造 方法 结构 晶片
【主权项】:
一种倒装芯片封装的制造方法,包含下列步骤:于一具有多个凸块的晶片表面覆盖一粘胶层,其中该多个凸块是浸埋于该粘胶层内;使该多个凸块的一部份露出于半固化的该粘胶层;单一化该晶片为多个芯片;倒装焊一该芯片于一基板上。
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