[发明专利]金属杂质检测装置无效
| 申请号： | 200910131434.4 | 申请日： | 2009-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101852772A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 高海生 | 申请（专利权）人： | 高海生 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01B11/00;G01B7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226241 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种金属杂质检测装置，机台上设有金属磨抛系统和金属杂质超声波检测系统，金属试片在本装置上经过研磨和超声波震荡处理后在试片表面生成雾状的破损痕迹，通过破损痕迹可以快速，准确的诊断出金属氧化膜的形态、分布、尺寸、位置及数量，进以确认其组成，本发明还具有成本低，可以在生产线上在线检测等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 杂质 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种金属杂质检测装置，包括机台，其特征是机台上设有金属磨抛系统和金属杂质超声波检测系统。
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