[发明专利]一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200910135895.9 申请日: 2009-04-30
公开(公告)号: CN101566569A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 尚丽平;李占锋;邓琥;李朕;何俊;屈薇薇;黄竞 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621010四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统和方法。现有技术中经过采样、预处理、检测和人工筛选的方式来鉴别两个荧光光谱混叠物质的方法存在着效率低下,鉴别费用较高和准确性受人员主观因素影响等问题。本发明的通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统以及方法先测量需鉴别荧光光谱混叠的物质的三维荧光光谱,提取平均值、标准差、相关系数、边际分布、原点矩和混合中心矩等几种比对特征参量α1;再计算对应参量的差值比C,以判定用于基准数据库的敏感特征参量β;存储物质种类名称和对应敏感特征参量β至基准数据库;接着测量需鉴别物质的三维荧光光谱并提取比对特征参量α2;然后依据所提取的比对特征参量α2和所获取的基准敏感特征参量β计算出需鉴别物质的相关度R;获取相关度值最大的物质名称以及对应的特征参量;最后输出相关度最大的物质名称、对应特征参量和相关度值,如此可高效、低成本和高准确度的进行两种荧光光谱混叠物质的鉴别,从而有利于快速、准确地进行荧光光谱混叠物质的现场种类鉴别检测。
搜索关键词: 一种 通过 特征 参量 鉴别 多种 荧光 光谱 物质 系统 方法
【主权项】:
1.一种通过特征参量鉴别多种荧光光谱混叠物质的系统,包括:测量提取模块,用于通过荧光测量仪器来测量多种物质的三维荧光光谱,并提取其中的比对特征参量α1;计算和判定模块,用于分别计算多种物质的三维荧光光谱同一比对特征参量的差值比C,并将差值比C大于预先设定阈值的比对特征参量设为三维荧光光谱混叠物质的敏感特征参量β;存储模块,用于存储多个荧光光谱混叠物质的种类名和敏感特征参量β至基准数据库;测量处理模块,用于提取需鉴别物质的比对特征参量α2;查询获取模块,用于依据测量处理模块所提取的需鉴别物质的比对特征参量α2在基准数据库种查询与其相关度最大的敏感特征参量;计算模块,用于计算需鉴别物质的比对特征参量α2与相关度最大的敏感特征参量β的相关度值R,当其值大于预先设定的阈值时则判定为需要鉴别物质的种类名称;输出模块,根据计算模块的结果输出所需要鉴别物质的种类名称和对应的敏感特征参量β,并输出相关度R的数据。
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