[发明专利]转印方法、用于转印的光掩膜及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910137622.8 申请日: 2009-04-27
公开(公告)号: CN101782718A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 田明静 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G03F1/14 分类号: G03F1/14;G03F7/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 谢安昆;宋志强
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种制造光掩膜的方法,预先准备多种类型的备选边框图形数据,边框图形数据对应于光掩膜的边框区域,每个类型的边框图形数据具有预设的图形负荷,并包括如下步骤:获取对应于光掩膜主图形区域的图形数据的图形负荷;选择图形负荷与所获取的主图形负荷最接近的备选边框图形数据;将边框图形数据与主图形数据组合,生成曝光文件;将所述曝光文件曝光于光掩膜空白基板上,对基板的光刻胶显影,并对基板遮光层蚀刻以及去除光刻胶,得到光掩膜。本发明还公开了一种光掩膜以及一种转印方法。本发明可以改善光掩膜的边框区域与主图形区域的图形负荷差异对光掩膜的关键尺度造成的影响。
搜索关键词: 方法 用于 光掩膜 及其 制造
【主权项】:
一种制造光掩膜的方法,所述光掩膜用于将光掩膜上的主图形区域的图形转印到晶圆上,其特征在于,预先准备多种类型的备选边框图形数据,边框图形数据对应于光掩膜的边框区域,每个类型的边框图形数据具有预设的图形负荷,并包括如下步骤:获取对应于光掩膜主图形区域的图形数据的图形负荷;选择图形负荷与所获取的主图形负荷最接近的备选边框图形数据;将边框图形数据与主图形数据组合,生成曝光文件;将所述曝光文件曝光于光掩膜空白基板上,对基板的光刻胶显影,并对基板遮光层蚀刻以及去除光刻胶,得到光掩膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910137622.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top