[发明专利]浮块测试器和用于测试浮块的方法有效

专利信息
申请号: 200910138503.4 申请日: 2009-04-27
公开(公告)号: CN101572095A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 野岛晃 申请(专利权)人: 日本发条株式会社
主分类号: G11B5/455 分类号: G11B5/455
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 茅翊忞
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种浮块测试器(10),包括盘(11)、可动桌台(12)、桌台驱动机构(13)、引导件(14)等。多个悬架(30A、30B、30C)安装在可动桌台(12)上。浮块(50)安装在各悬架(30A、30B、30C)上。引导件(14)可支承悬架(30A、30B、30C)的相应提升凸片(40)。引导件(14)具有第一引导表面(71)、第二引导表面(72)和开口(73),它们相对于盘(11)的轨道宽度方向(B)设置。当任何提升凸片(40)随着可动桌台(12)沿盘(11)的轨道宽度方向(B)移动到开口(73)时,浮块(50)朝向盘(11)的记录表面(11a)下降。
搜索关键词: 测试 用于 方法
【主权项】:
1.一种用于检查盘驱动器的浮块(50)的浮块测试器(10),其特征在于,包括:盘(11),所述盘(11)用作记录介质;转动机构(17),所述转动机构(17)使所述盘(11)转动;悬架(30A、30B、30C),所述悬架包括其远端上的提升凸片(40)和其上安装有所述浮块(50)的万向架部分(45);可动桌台(12),所述可动桌台沿所述盘(11)的轨道宽度方向(B)可移动;桌台驱动机构(13),所述桌台驱动机构沿所述轨道宽度方向(B)移动所述可动桌台(12);信号处理部分(15),所述信号处理部分电气连接到所述浮块(50)的构件(60)并处理信号以访问所述盘(11)的记录表面(11a);以及引导件(14),所述引导件(14)位于所述提升凸片(40)和所述盘(11)的所述记录表面(11a)之间并支承所述提升凸片(40),由此防止所述浮块(50)落到所述盘(11)上,所述可动桌台(12)包括悬架支承部分(25),所述悬架支承部分(25)保持沿所述盘(11)的所述轨道宽度方向(B)设置的多个所述悬架(30A、30B、30C),所述引导件(14)包括引导表面(70)和开口(73),所述引导表面(70)沿所述盘(11)的所述轨道宽度方向(B)延伸并与所述提升凸片(40)接触,且所述开口(73)形成在所述引导表面(70)相对于所述轨道宽度方向(B)的中部并使所述提升凸片(40)能够朝向所述盘(11)的所述记录表面(11a)移动。
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