[发明专利]8晶体管型低漏电静态随机存取内存单元有效

专利信息
申请号: 200910140788.5 申请日: 2009-05-15
公开(公告)号: CN101740116A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 吴瑞仁;陈炎辉;周绍禹;廖宏仁 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G11C11/412 分类号: G11C11/412;G11C11/419
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露一种静态随机存取内存(static random access memory,SRAM)单元,包含一对交错耦合反向器,含有第一储存节点,以及第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有栅极,第一与第二源/漏极,分别与第一储存节点,读入字符线(read word-line,RWL)以及第一读入位线(read bit-line,RBL)相连,读入字符线以及第一读入位线在进行读取动作时被启动,而在进行写入动作时不被启动。
搜索关键词: 晶体管 漏电 静态 随机存取 内存 单元
【主权项】:
一种静态随机存取内存单元,其特征在于,包含:一对交错耦合反向器,含有一第一储存节点;以及一第一N型金属氧化物半导体晶体管,含有一栅极,一第一与一第二源/漏极,分别与该第一储存节点,一读入字符线以及一第一读入位线相连,该读入字符线以及该第一读入位线在进行一读取动作时被启动,而在进行任一写入动作时不被启动。
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