[发明专利]硅穿孔的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910141402.2 申请日: 2009-05-11
公开(公告)号: CN101887863A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 黄泰源;陈知行 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/768;H01L21/306;H01L21/311
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍
地址: 中国*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种硅穿孔的制造方法如下所述。首先,提供一晶圆,晶圆具有一主动面、一背面以及覆盖于主动面的一保护层。接着,形成至少一第一蚀孔,第一蚀孔贯穿晶圆。然后,形成一绝缘材料于保护层上,以形成一绝缘层,且部分绝缘材料填入于第一蚀孔中,以形成一绝缘柱体。之后,形成至少一第二蚀孔,第二蚀孔贯穿绝缘柱体,以使绝缘柱体于第一蚀孔中形成一中空部。接着,形成一焊料于中空部的端部上,并加热焊料,以使焊料熔化,其中晶圆外与中空部内形成有一压力差,焊料经由压力差填入于中空部中,以形成一导电柱。
搜索关键词: 穿孔 制造 方法
【主权项】:
一种硅穿孔的制造方法,包括:提供一晶圆,该晶圆具有一主动面、一背面以及覆盖于该主动面的一保护层;形成至少一第一蚀孔,该第一蚀孔贯穿该晶圆;形成一第一绝缘材料于该保护层上,以形成一第一绝缘层,且部分该第一绝缘材料填入于该第一蚀孔中,以形成一绝缘柱体;形成至少一第二蚀孔,该第二蚀孔贯穿该绝缘柱体,以使该绝缘柱体于该第一蚀孔中形成一中空部;形成一焊料于该中空部的端部上,并加热该焊料,以使该焊料熔化,其中该晶圆外与该中空部内形成有一第一压力差,该焊料经由该第一压力差填入于该中空部中,以形成一导电柱。
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