[发明专利]硅穿孔的制造方法有效
申请号: | 200910141402.2 | 申请日: | 2009-05-11 |
公开(公告)号: | CN101887863A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
发明(设计)人: | 黄泰源;陈知行 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/768;H01L21/306;H01L21/311 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种硅穿孔的制造方法如下所述。首先,提供一晶圆,晶圆具有一主动面、一背面以及覆盖于主动面的一保护层。接着,形成至少一第一蚀孔,第一蚀孔贯穿晶圆。然后,形成一绝缘材料于保护层上,以形成一绝缘层,且部分绝缘材料填入于第一蚀孔中,以形成一绝缘柱体。之后,形成至少一第二蚀孔,第二蚀孔贯穿绝缘柱体,以使绝缘柱体于第一蚀孔中形成一中空部。接着,形成一焊料于中空部的端部上,并加热焊料,以使焊料熔化,其中晶圆外与中空部内形成有一压力差,焊料经由压力差填入于中空部中,以形成一导电柱。 | ||
搜索关键词: | 穿孔 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种硅穿孔的制造方法,包括:提供一晶圆,该晶圆具有一主动面、一背面以及覆盖于该主动面的一保护层;形成至少一第一蚀孔,该第一蚀孔贯穿该晶圆;形成一第一绝缘材料于该保护层上,以形成一第一绝缘层,且部分该第一绝缘材料填入于该第一蚀孔中,以形成一绝缘柱体;形成至少一第二蚀孔,该第二蚀孔贯穿该绝缘柱体,以使该绝缘柱体于该第一蚀孔中形成一中空部;形成一焊料于该中空部的端部上,并加热该焊料,以使该焊料熔化,其中该晶圆外与该中空部内形成有一第一压力差,该焊料经由该第一压力差填入于该中空部中,以形成一导电柱。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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