[发明专利]痕量钚样品中钚年龄测定方法

摘要

本发明公开了一种痕量钚年龄的探测方法。该方法称取一份钚样品，加入闪烁剂测量β计数率，得到²⁴¹Pu的量。在另一份同样的钚样品中，加入镅的同位素稀释剂²⁴³Am，调价，上TEVA树脂柱，硝酸淋洗收集Am组分，α谱测量²⁴¹Am/²⁴³Am值，计算出²⁴¹Am的量。代入年龄计算公式得到钚年龄。该方法化学分离过程简单，回收率高。样品分析时间短，仪器操作简单，方法准确性高。

主权项

1.一种痕量钚样品中钚年龄测定方法，称取一份钚样品，加入闪烁剂测量β计数率，得到241Pu的量，其特征在于：在另一份同样的钚样品中，加入镅的同位素稀释剂243Am，调价，上TEVA树脂柱，硝酸淋洗收集Am组分，α谱测量241Am/243Am值，计算出241Am的量；代入年龄计算公式(1)得到钚年龄。$t=\frac{1}{{\mathrm{\λ}}_1-{\mathrm{\λ}}_2}\·\ln [1-(\frac{{\mathrm{\λ}}_2}{{\mathrm{\λ}}_1}-1)\frac{N_2}{N_1}]---\left(1\right)$式中，t是钚年龄，年。λ是放射性核的衰变常数，ln2/T1/2，N是测量时刻的放射性核原子数，下标1和2分别代表母核与子核，本发明是指241Pu和241Am。