[发明专利]方位检测装置和雷达装置无效

专利信息
申请号: 200910146041.0 申请日: 2009-06-10
公开(公告)号: CN101604015A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 安藤隆雅 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02;G01S13/06;G01S13/58;G01S13/93;B60R11/00;H01Q1/32;H01Q21/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 潘士霖;陈 炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种方位检测装置和雷达装置。在方位检测装置中,接收机包括多个第一天线元件,还包括第二天线元件。第一天线元件以第一间隔d1被布置以形成阵列。第二天线元件被布置,以限定其本身与位于阵列端部的第一天线元件之一之间的第二间隔d2,其中,d2小于d1。第一方位检测器在其角范围由d1限定的第一方位检测区域中基于由所有第一天线元件生成的信号来检测目标的方位。第二方位检测器在其角范围由d2限定的第二方位检测区域中基于由第二天线元件和位于阵列端部的第一天线元件生成的信号来检测目标的方位。
搜索关键词: 方位 检测 装置 雷达
【主权项】:
1.一种方位检测装置,包括:发射机,发射连续波;接收机,包括多个第一天线元件,还包括第二天线元件,所有所述第一天线元件和所述第二天线元件中的每一个均被配置为一旦接收到由所述连续波被目标反射产生的反射连续波则生成信号,所述第一天线元件以第一间隔d1被布置以形成所述第一天线元件的阵列,所述第二天线元件被布置以限定在其本身与位于所述第一天线元件的阵列的端部的所述第一天线元件中的一个之间的第二间隔d2,其中,d2小于d1;第一方位检测器,在其角范围由d1限定的第一方位检测区域内,基于由所有所述第一天线元件生成的信号来检测所述目标的方位;以及第二方位检测器,在其角范围由d2限定的第二方位检测区域内,基于由所述第二天线元件以及位于所述阵列的端部并与所述第二天线元件一起限定所述第二间隔d2的所述第一天线元件中的所述一个生成的信号来检测所述目标的方位。
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