[发明专利]控制预测的割炬高度的方法和系统无效
申请号: | 200910147711.0 | 申请日: | 2009-06-17 |
公开(公告)号: | CN101693320A | 公开(公告)日: | 2010-04-14 |
发明(设计)人: | 马修·法甘 | 申请(专利权)人: | 马修·法甘 |
主分类号: | B23K7/10 | 分类号: | B23K7/10;B23K10/00;B23K26/42;G05B19/19 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艳春 |
地址: | 澳大利亚*** | 国省代码: | 澳大利亚;AU |
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摘要: | 一种用于控制割炬高度的方法,包括:将工件加载到数控机床上;用扫描装置扫描工件上表面上的多个离散点;分别测量扫描的每个离散点的X、Y、Z坐标,其中X和Y限定基本平行于加载的工件的平面,Z表示在各离散点处上表面与扫描装置之间的距离;将从每个扫描的离散点测得的XYZ坐标存储到数据集中;将该数据集数学拟合为表示加载的工件的上表面的平滑表面;以及沿着编程到数控机床中的切割路径切割工件,同时控制割炬的高度对应于表示性的平滑表面。 | ||
搜索关键词: | 控制 预测 高度 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种控制预测的割炬高度的方法,用于调整安装在数控切割机的台架上的割炬相对于安装在所述数控切割机的刀床上的板的高度,包括以下步骤:利用所述台架将所述割炬在XY平面内定位于所述板上的多个离散XY点中的每个XY点处;在所述每个XY点处,使用与所述割炬安装在一起的检测装置测量所述割炬和所述板的上表面之间的距离,以形成一组XYZ轮廓点,所测量的距离是沿着基本垂直于所述XY平面的Z轴的;在表面预测模块内,基于所述一组XYZ轮廓点生成表面模型;以及在基于所述表面模型切割所述板的同时控制所述割炬的高度,以将所述割炬保持在所述上表面上方的期望高度处。
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