[发明专利]以高密度电阻材料为主的半导体存储装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910149323.6 申请日: 2009-06-16
公开(公告)号: CN101667588A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 李明道;赖二琨;谢光宇 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L23/528;H01L21/8229;G11C11/56
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种以高密度电阻材料为主的半导体存储装置及其制造方法。本发明所揭露的一存储装置包含多个存储单元在字线跟位线之间。每一存储单元包含一二极管及多个存储元件,而每一存储元件包含一种或多种金属氧化物化合物,该二极管和该多个存储元件在一对应的字线和一对应的位线之间的电流路径上串联安置。
搜索关键词: 高密度 电阻 材料 为主 半导体 存储 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种存储装置,其特征在于,包含:多条字线;多条位线;以及多个存储单元位于该字线及该位线之间,每一存储单元包含:一二极管;以及多个存储元件,每一存储元件包含一种或多种金属氧化物化合物,该二极管及该多个存储元件是沿着一介于该多个字线的一对应的字线和该多个位线的一对应的位线之间的一电流路径以电性串联安置。
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