[发明专利]一种双光束地基沉降检测装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 200910149457.8 申请日: 2009-06-16
公开(公告)号: CN101603816A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 马琨;吴加权 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 昆明今威专利代理有限公司 代理人: 赛晓刚
地址: 650093云南省昆明市*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种利用激光准直技术及光电检测原理,并采用双光束来检测地基沉降的成套设备和方法,该设备由一个激光器、一个光学准直系统、一个分束镜、两个光电测尺接收装置组成。检测地基沉降时,除待测点外,于无沉降处设参考点和激光器,待测点和参考点各置一光电测尺接收装置。激光器发出的激光经光学准直系统压缩光束发散角,再经分束镜将光束分成相互垂直的两束光,由待测点和参考点的两个光电测尺接收装置接收和读数。各测点前后两次数值之差即为该点位移变化量,再取观测点与参考点位移变化量之差,消除测量过程中激光束所产生的光漂位移量,得到地基的真实沉降量。
搜索关键词: 一种 光束 地基 沉降 检测 装置 方法
【主权项】:
1,一种双光束地基沉降检测装置,包括一个激光器(1),一个光学准直系统(2),一个光电测尺接收装置(4A),所述光电测尺接收装置包括硅光电池遮光筒(5)、直流微安表头(6)、数显游标卡尺(7)、游标卡尺数显窗口(8)、固定铁坐(9)、二象硅光电池(10);其特征在于:本装置还包括一个分束镜(3),另一个与(4A)结构相同的光电测尺接收装置(4B),所述分束镜(3)为半反半射透镜。
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