[发明专利]测试低功率系统中的状态保留逻辑无效
| 申请号： | 200910150248.5 | 申请日： | 2009-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN101644742A | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 克里希纳·查克拉瓦达纳努拉;帕特里克·加拉格尔;维韦克·奇克马内;史蒂文·L·格雷戈尔;普尼特·阿罗拉 | 申请（专利权）人： | 益华公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孟 锐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种测试集成电路(IC)的方法，其包含：将数据序列加载到保持数据值的电路元件链中，其中将至少一些电路元件的输出连接到邻近电路元件的输入，因此值在用于加载值的链输入与用于卸载值的链输出之间依序通过所述链，且第一电路元件包含用于在与所述IC相关的功率变化期间保存值的保留元件。所述方法进一步包含：将来自所述数据序列的值保存在所述保留元件中；及存取所述保留元件以验证来自所述数据序列的所述保存的值的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 功率 系统 中的 状态 保留 逻辑 | ||
【主权项】：
1、一种测试集成电路(IC)的方法，其包括：将数据序列加载到保持数据值的电路元件链中，其中将至少一些电路元件的输出连接到邻近电路元件的输入，因此值在用于加载值的链输入与用于卸载值的链输出之间依序通过所述链，且第一电路元件包含用于在与所述IC相关的功率变化期间保存值的保留元件；将来自所述数据序列的值保存在所述保留元件中；及存取所述保留元件以验证来自所述数据序列的所述保存的值的准确性。
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