[发明专利]光源试验方法及其装置有效

专利信息
申请号: 200910154281.5 申请日: 2009-11-19
公开(公告)号: CN101799357A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 潘建根;李倩 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种光源试验方法,在没有外来杂散光或外来杂散光较小的环境里试验两个或两个以上被测光源,取样装置能接收每一个被测光源发射光,并将光信号送至测量仪表;可程控供电电源控制点亮或熄灭各个被测光源,测量仪表和可程控供电电源通过程控联动,可按照一定的时序工作,直接或通过计算得到每个被测光源在一定的条件和/或一定时间下的光学参数。对应的试验装置中用试验腔实现低杂散光环境,两个或两个以上被测光源设置在试验腔内,试验腔内还设有能接收来自每一个被测光源发射光的取样装置。本发明中最少用一个光测量取样装置,能实现多个光源光学参数的测量,在不影响精度的前提下,测量成本大幅降低,且操作简单方便。
搜索关键词: 光源 试验 方法 及其 装置
【主权项】:
光源试验方法,其特征在于:在没有外来杂散光或外来杂散光较小的环境里试验两个或两个以上被测光源(2),可程控供电电源(3)控制点亮或熄灭各个被测光源(2);能接收每一个被测光源(2)发射光的取样装置(4)采集各个被测光源(2)的光信号,并将采得的光信号送至测量仪表(5);测量仪表(5)和供电电源(3)通过程控联动,测量仪表(5)测量被可程控供电电源(3)点亮的被测光源(2)的光信号,直Ž¥或通过计算得到被测光源(2)在一定的试验条件和/或试验时间下的光学参数。
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