[发明专利]一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法无效
| 申请号： | 200910154593.6 | 申请日： | 2009-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN101706295A | 公开（公告）日： | 2010-05-12 |
| 发明（设计）人： | 单晓杭;孙建辉;张利;丁力 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人： | 王兵;王利强 |
| 地址： | 310014 *** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法，包括以下步骤：(1)、采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段；(2)、在每个分段后的线性区进行测量值校准，即将多次A/D采样值累加后右移n次，计算得到校准后的参数测量值，校准系数S用两个字节来保存，高字节定义为SH，低字节定义为SL，其中：S＝SH×256+SL(3)、依照标准仪表的标准测量值，通过调整所述校准系数S对参数测量值进行精确的校准。本发明提升无乘法指令单片机的处理能力，避免采用浮点数乘除法操作、高效便捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 乘法 指令 单片机 测量 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种应用于无乘法指令单片机的测量值校准方法，包括以下步骤：(1)、采用非线性分段方式对测量值所在的区域进行分段；(2)、在每个分段后的线性区进行测量值校准，即将多次AD采样值累加后右移n次，参照下式，计算得到校准后的参数测量值： Y = Σ i = 1 S X 2 n + b 其中：Y：参数测量值；X：为A/D采样值；S：校准系数，即连续采样的次数；n：A/D分辨率，即A/D位数；b：零位误差校准值；所述的校准系数S用两个字节来保存，高字节定义为SH，低字节定义为SL，其中：S＝SH×256+SL数据转换过程分为两步：第一步：连续采样256次，计算累加和，然后将采样累加和再通过循环相加实现累加和乘以SH；第二步：连续采样SL次，并计算累加和；(3)、依照标准仪表测得的标准测量值，通过调整所述校准系数S对参数测量值进行精确的校准。
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