[发明专利]一种用于制备纳米线阵列的模板的制造方法无效

专利信息
申请号: 200910157108.0 申请日: 2009-12-29
公开(公告)号: CN101723314A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 邱东江 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 盛辉地
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种用于制备纳米线阵列的模板的制造方法,采用热膨胀系数小于15*10-6K-1的衬底材料和热膨胀系数大于50*10-6K-1的软质薄膜,利用衬底与薄膜两种材料热膨胀系数的巨大差异,在热膨胀系数大的薄膜材料上引入足够大的热应力,然后在瞬间将其释放,热膨胀系数大的薄膜表面形成排列规则、有序的裂纹。利用该裂纹阵列作为模板,用于制备纳米线阵列,本发明工艺简单、过程参数容易控制、成本低,重复性好。
搜索关键词: 一种 用于 制备 纳米 阵列 模板 制造 方法
【主权项】:
一种用于制备纳米线阵列的模板的制造方法,采用热膨胀系数小于15*10-6K-1的衬底材料和热膨胀系数大于50*10-6K-1的软质薄膜,利用衬底与薄膜两种材料热膨胀系数的巨大差异,在热膨胀系数大的薄膜材料上引入足够大的热应力,然后在瞬间将其释放,热膨胀系数大的薄膜表面形成排列规则、有序的裂纹,得到用于制备纳米线阵列的模板,制造步骤如下:1)选取一块表面平整、质地较硬、强度好、热膨胀系数小于15*10-6K-1的薄片材料作为衬底材料,首先采用旋涂法在衬底表面涂覆一层厚度为500~600纳米的热膨胀系数大于50*10-6K-1的软质薄膜,然后烘干;2)利用光刻技术将软质薄膜刻蚀成长条形图案,使留在衬底表面的长条状软质薄膜的宽度在5~15微米之间;3)将光刻后得到的长条状的软质薄膜连同硬质衬底一起,在70~90℃温度范围加热10分钟至15分钟;4)将加热后的衬底连同长条状软质薄膜浸入液氮或液氦中,2~3秒钟后将其从液氮或液氦中取出,软质薄膜在液氮或液氦中浸淬后形成裂纹,将其置于显微镜下观察,在长条状的软质薄膜区域内见到规则排列的线状裂纹,线状裂纹的宽度为纳米量级,裂纹形成处的衬底暴露,得到用于制备纳米线阵列的模板。
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